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部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备) 七  使用要求;220V,50Hz ,去离子水欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级,相关参数有所变更,请以生产厂家确认为准。
Auto Wafer 300_2 Channel 双探头全自动晶圆检测系统主要是为晶圆的在线(inline)检测开发的。它的主要应用领域为键合片(BondedWafer,MEMS)检测,可检测键合界面上的孔洞、夹杂物、分层等缺陷。该系统可根据客户的需求进行定制,例如开放式装载机构/前端开口片盒、不同类型的条形码读取组件、不同的桥接工具解决方案、不同类型的干燥解决方案-气刀、真空干燥、离心干燥等。选配部件:软件:3D层析成像模块(可对3D图形进行移动、旋转和切割)      Z-scan软件模块      Tray-scan软件模块      专业图像分析处理软件包
Auto Wafer 300 自动晶圆检测系统主要是为晶圆的在线(inline)检测开发的。它的主要应用领域为键合片(BondedWafer,MEMS)检测,可检测键合界面上的孔洞、夹杂物、分层等缺陷。该系统可根据客户的需求进行定制,例如开放式装载机构/前端开口片盒、不同类型的条形码读取组件、不同的桥接工具解决方案、不同类型的干燥解决方案-气刀、真空干燥、离心干燥等。
部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备) 七  使用要求;220V,50Hz ,去离子水欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级,相关参数有所变更,请以生产厂家确认为准。
USAMInverted 是一款专为高端研发和工业应用开发的超声波检测仪器,它必须安装在防振工作台上。将超声波扫描显微镜和光学显微镜结合起来,允许用户在两者之间快速切换。  声学和光学显微图像在x-y方向上的精度低于5μm,用户可以对样品的同一区域用声学和光学的方法进行细致的比较。
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  • 发布时间: 2018 - 01 - 03
    部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)5、圆柱体、管材样品检测旋转装置使用要求;220V,50Hz ,去离子水备注:SAM 301 系列包含SAM 300 HighTec 高端机型,SAM 300  UltraTec 超高速机型(双马达配置,扫描速度最高达 2000mm/s)SAM 300 Basic 等机型,根据具体配置予以细分,满足不同用户需求;欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级, 相关参数有所变更,请以生产厂家确认为准。
  • 发布时间: 2018 - 01 - 03
    部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)5、圆柱体、管材样品检测旋转装置
  • 发布时间: 2018 - 01 - 03
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