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  • 德国 PVA TePla  于 2007 年 10 月并购 德国 KSI !  请谨慎识别近年在市场上再次以 KSI简称出现的公司
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超声波扫描显微镜
扫描显微镜
超声波检测设备
德国PVA显微镜资讯
Products / Products
  • 超声波扫描显微镜
    1. 前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率2. 各种样品吸盘、夹具定制3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、    X-Ray 等众多显微检测设备)4、圆柱体、管材样品检测旋转装置5、使用要求; 220V,50Hz ,去离子水
    德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备) 图为左右排列双...
    部分可选项:  1.  大水槽,深水槽定制;各种样品吸盘、夹具定制2. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)3.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz ...
    部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件...
    部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件...
    部分可选项:  1.  德国PVA专利产品Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众...
  • 电镜
    简便易用的低真空扫描电镜及时、准确地得到答案研究各种各样的材料,并进行结构和成份表征,是目前对扫描电镜的主流应用要求。简便易用的Inspect™ S50是为这些研究量身定做的,具有较强的灵活性和通用性。Inspect S50能提供各种数据:包括表面像、成份像并结合元素分析结果;这些数据可用于确定材料的性质和成份构成。当今人们利用扫描电镜研究的材料早已超出单纯的金属和经导电喷涂处理过的样品,Insp...
  • 能谱仪
  • 其他

德国  PVA TePla - 科视达

超声波扫描显微镜一上海联合实验室

R & D

2013年,科视达®  携手德国 PVA TePla 在上海成立了亚洲最大的 德国 PVA TePla 超声波扫描显微镜 上海联合实验室,陈列有德国 PVA TePla 三种不同规格型号的超声波扫描显微镜主流机型,为广大用户提供现场看机服务。

PVA TePla Analytical Systems GmbH 是德国知名 PVA TePla AG 集团成员. PVA TePla 凭借集团公司雄厚的资金实力和强大的研发团队,数以千计的专利,持续不断地发展超声波扫描显微镜技术, 为客户提供突破传统超声扫描瓶颈的创新解决方案。

超声波扫描显微镜被更为广泛地应用于材料科学,半导体行业,生物学,太阳能以及晶圆键合缺陷检测等领域,给传统的精细结构观察带来了全新的方法。

 After-sale Service

过去的成功经验告诉我们:优质的服务是我们生存的关键,在引进先进的科学仪器及检测设备的同时,我们更要提供给客户最优质的服务。

占地面积30000平方米,拥有各种设备近百台,是专业从事电加工数控精密机床的生产厂家,拥有产品开发设计、生产制造、推广的能力。

高精密度,您的不二之选

历年展会回顾 / Case
Explain: 德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会德国原厂技术专家莅临指导参展机型 SAM 300 B参展机型 SAM 302 HD2德国技术专家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自动晶圆键合超声扫描检测系统SAM 302 HD2 HiSA 翘曲样品告诉实时自动对焦 及 DTS 高分辨动态透射扫描
Explain: 近年来,德国PVA TePla凭借在超声波扫描显微镜(SAM)领域内不断创新的、卓越的领先技术、优异稳定的产品质量、优质的售后服务,被广大的中国用户群所认可。德国PVA TePla近年更不断推出适合半导体领域的最尖端的超声检测设备,并在中国同步展出和销售。为此,我们科视达®和德国 PVA TePla厂商郑重邀请您参加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展会”。时间:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地点:  上海浦东新国际展览中心   上海浦东龙阳路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科视达展出机型:1.     SAM 302 HD2 – 超高速实时自动聚焦 HiSA & 高分辨率动态透射扫描 DTS  2.   SAM 300 B – 展示最新软件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射扫描
Explain: 德国 PVA & 科视达携手参展 2017 上海 Semicon 展会技术专家莅临指导参展机型 SAM 300
Explain: 近年来,德国 PVA 凭借在超声波扫描显微镜领域内卓越的领先技术、稳定的产品质量、优质的售后服务,被广大的中国用户群所认可和推荐。近年来,德国 PVA 不断推出拥有独特功能的、新型尖端超声波扫描检测设备,并在中国市场同步推出。德国 Sentronics 的晶圆膜厚/平整度/弓形/翘曲/粗糙度测量设备 (原 ISIS)以其高度集成的功能于一身,深受广大用户喜爱,避免了重复购买设备的弊端。2016推出的 SemDex 600 最大检测范围  600 * 600mm.展会:  2017 上海Semicon  时间:  2017年3月14日星期二 -  3月16日星期四       地点: 上海浦东新国际展览中心  上海浦东龙阳路2345号展位号:W3 馆- 3619展出机型:1. 德国 PVA - SAM 300 Basic - 新款机型,配置最新 Winsam 8 操作软件2. 德国 PVA - SAM 300 UltraTec - 前后双探头、超高速 (最快扫描速度   2000mm/ 秒)、同时配置 Winsam 5.8 + Winsam 8 操作软件3. 德国 Sentronics 晶圆膜厚测试仪 SemDex 151- 桌上型  特此邀请, 真诚期待您的光临!
FAQ / FAQ More
number of clicks: 282
Date updated: 2014 - 11 - 15

1. 样品测试,提供测试报告并当面技术交流;

2. 针对客户需求,推荐适合机型及探头配置。


number of clicks: 303
Date updated: 2014 - 11 - 15

1. 专人负责售后,向客户提供“一站式”服务;

2. 上海实验室提供循坏技术培训;

3. 远程参数设置指导服务;

4. 提供夹具设计、制作或指导。


number of clicks: 287
Date updated: 2014 - 11 - 15

1. 提供小批量样品外协测试服务;

2.安装场地勘察


number of clicks: 221
Date updated: 2014 - 11 - 08

1、 疑难样品免费测试指导

2、 探头短期外借服务

3、 治具、防水密封夹具定制服务


公司新闻 / News
2018 参展上海Semicon 盛况分享
德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会德国原厂技术专家莅临指导参展机型 SAM 300 B参展机型 SAM 302 HD2德国技术专家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自动晶圆键合超声扫描检测系统SAM 302 HD2 HiSA 翘曲样品告诉实时自动对焦 及 DTS 高分辨动态透射扫描
2018 - 04 - 18
德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会
近年来,德国PVA TePla凭借在超声波扫描显微镜(SAM)领域内不断创新的、卓越的领先技术、优异稳定的产品质量、优质的售后服务,被广大的中国用户群所认可。德国PVA TePla近年更不断推出适合半导体领域的最尖端的超声检测设备,并在中国同步展出和销售。为此,我们科视达®和德国 PVA TePla厂商郑重邀请您参加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展会”。时间:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地点:  上海浦东新国际展览中心   上海浦东龙阳路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科视达展出机型:1.     SAM 302 HD2 – 超高速实时自动聚焦 HiSA & 高分辨率动态透射扫描 DTS  2.   SAM 300 B – 展示最新软件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射扫描
2018 - 04 - 18
2017 参展 上海 Semicon 盛况分享
德国 PVA & 科视达携手参展 2017 上海 Semicon 展会技术专家莅临指导参展机型 SAM 300
2017 - 03 - 22
2018 参展上海Semicon 盛况分享
德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会德国原厂技术专家莅临指导参展机型 SAM 300 B参展机型 SAM 302 HD2德国技术专家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自动晶圆键合超声扫描检测系统SAM 302 HD2 HiSA 翘曲样品告诉实时自动对焦 及 DTS 高分辨动态透射扫描
2018 - 04 - 18
德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会
近年来,德国PVA TePla凭借在超声波扫描显微镜(SAM)领域内不断创新的、卓越的领先技术、优异稳定的产品质量、优质的售后服务,被广大的中国用户群所认可。德国PVA TePla近年更不断推出适合半导体领域的最尖端的超声检测设备,并在中国同步展出和销售。为此,我们科视达®和德国 PVA TePla厂商郑重邀请您参加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展会”。时间:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地点:  上海浦东新国际展览中心   上海浦东龙阳路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科视达展出机型:1.     SAM 302 HD2 – 超高速实时自动聚焦 HiSA & 高分辨率动态透射扫描 DTS  2.   SAM 300 B – 展示最新软件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射扫描
2018 - 04 - 18
2017 参展 上海 Semicon 盛况分享
德国 PVA & 科视达携手参展 2017 上海 Semicon 展会技术专家莅临指导参展机型 SAM 300
2017 - 03 - 22
行业新闻 / News
哪些原因会影响超声波检测仪的检测结果?
由于超声波检测仪具有十分精确的检测效果,所以现在很多生产企业都会从采购优质超声波检测仪来对产品做检测,但是,有时候工作人员会发现检测的结果并没有达到预期的标准,那么,是什么原因导致的呢?下面就由超声波检测仪厂家来介绍哪些原因会影响检测的结果。1、频率选择的不正确超声波检测仪可以发出的超声波频率是有一个范围的,如果选择的频率不正确那就会影响产品检测的效果。因为频率的高低会导致产品接受到的超声波信息量过多或不足,再反馈的时候,超声波检测仪接收的反馈声波信息就会有一定程度的失真。2、功率选择的不合适超声波检测仪的功率对检测效果也有着非常重要的影响,因为功率会影响超声波检测仪中传感器的激励脉冲以及接收状况,如果使用了不合理的功率就会导致对产品的检测达不到预期目标,所以,在检测之前应该先根据实际的检测修来调整合适的超声波功率以便达到好的检测效果。3、产品的表面过于粗糙在使用超声波检测仪做检测的时候,产品表面越光滑就越容易和检测仪的探头耦合,反之,耦合效果就会不良,反射回波较低,甚至还会出现接收不到回波信息的情况,所以,要想达到准确的检测结果,产品表面就应该避免太粗糙,如果有锈蚀情况可以先将其处理光滑在检测。超声波检测仪厂家在上文中为大家介绍了几个容易导致检测结果不佳的原因,通过简单的介绍大家就可以了解到,虽然超声波检测仪是一种非常好用的、无损性的检测工具,但是,如果不正确的去使用也会导致检测结果出现失误,所以一定要避免以上这几个因素。
2018 - 12 - 15
使用超声波扫描显微镜的注意事项
超声波扫描显微镜是在显微镜的基础上进行技术的创新和产品的升级,其融入了超声波技术对扫描显微镜的清晰度和探索度都有帮助,超声波技术也属于科技领域较为高级的科技,那么购买者在使用超声波扫描显微镜时需要了解的注意事项有哪些?一、注意在使用超声波显微镜时不要携带金属制品由于超声波扫描显微镜是使用超声波技术进行物品的观察记录,而超声波与金属制品会产生物理反应导致一些不安全的事件发生。因此各位使用者在对扫描显微镜进行操作时可以先检查自身,注意细小的零件设备例如手表项链等容易被忽略的生活用品。二、注意在使用时应该穿戴好专业的设备衣物关于超声波扫描显微镜哪家比较专业这个话题的讨论可以通过许多细节得出答案,专业生产超声波扫描显微镜的品牌肯定明白应该如何使用显微镜,因此购买者只需查看该品牌是否在使用时穿戴好专业的设备服装,并且是否拥有专业的团队提供协助就能够明白该品牌的专业度。三、注意使用时的观察样品应该摆放在专门位置购买者在使用超声波扫描显微镜对样品玻片进行观察扫描时,应该注意样品的摆放位置是否完好的待在其应该待的位置,因为显微镜的镜头无法以圆为中心的移动,因此观察的范围就比较的固定和死板,因此假若观察样品没有摆放在专门位置可能就无法看到内在结构。超声波扫描显微镜有哪些牌子是各位购买者的日常讨论中亘古不变的话题,使用超声波扫描显微镜时不仅需要注意在使用超声波显微镜时不要携带金属制品,而且购买者还需注意在使用时应该穿戴好专业的设备衣物,同时还需注意使用时的观察样品应该摆放在专门位置。
2018 - 12 - 06
选择超声波扫描显微镜的好处有哪些
各位购买者对于超声波扫描显微镜哪家比较专业这个问题相当的苦恼和好奇,而超声波扫描显微镜这一在科技领域获得重大机械突破的创作,也受到了许多微观爱好者对于更高清晰度分辨度的追捧和喜爱,那么对于不了解显微镜的购买者来说选择超声波扫描显微镜的好处有哪些?一、能够更加清晰的了解观察样品超声波扫描显微镜相比于光学显微镜拥有着更高的分辨率和清晰度,在观察同一物品时使用超声波显微镜能够比光学显微镜的观察度更高,也能够保证所观察物品的细节和微小分子能够被购买者捕捉,相比光学显微镜在清晰度方面的比拼超声波显微镜显然更胜一筹。二、能够观测到普通显微镜无法突破的微小物质超声波扫描显微镜拥有着更高的扫描频率和分辨率,由于光学显微镜的观察样品是有着尺寸范围的,小于纳米范围及其以下的观察对象光学显微镜是无法捕捉和放大的,而使用超声波显微镜就能够较为轻松的解决观察对象尺寸过于微小的难题。三、观察样品的制作过程也更加方便快捷超声波扫描显微镜在样品的制作方面并不像普通显微镜那样麻烦繁琐准备工作冗长,只需进行简单的装片和安装在合适的观察位置就完成了,而光学显微镜等普通的显微镜在进行观察前需将样品切成薄片,它们才能够进行较好的观察和处理该样品的细节。超声波扫描显微镜哪家生产的好需要消费者用时间和精力去寻求真实的答案,购买者选择超声波扫描显微镜不仅能够更加清晰的了解观察样品,而且还能够观测到普通显微镜无法突破的微小物质,同时可以保证观察样品的制作过程更加的方便快捷。
2018 - 12 - 06
利用C-SAM进行分析有哪些好处
c-sam超声波检测是指利用超声波显微镜进行专业检测,许多人将超声波检测与其他同类检测相混淆,此种检测是根据不同密度材料的反射速率进行深度分析,所以它的分析精度高且错误率低,而C-SAM的传输信号即为超声波,众所周知超声波的抑制界面较少而且穿透率较高,那么C-SAM检测具有哪些优势呢?一、限制性较小小编注意到目前应用C-SAM检测的领域涵盖了塑料封装IC以及各种晶片和pcb行业、LED生产行业,可知对C-SAM检测的限制较小,尤其检测裂纹缺陷以及空洞分层或者金属基板的各种问题时采用C-SAM检测要明显优于同类检测,应用范围广且对行业限制小是C-SAM检测的重要优势。二、测试简单传统同类设备测试中效率有待提高,而使用C-SAM检测的测试步骤则大大简化,确认样品类型后仅需选择相应的频率探头,再将其放置测量装置当中让C-SAM检测工具正常开机并顺利进入扫描模式,即可对图像进行深度扫描,自动化缺陷分析让测试更加简单。三、分析更透彻完整清晰有许多使用C-SAM检测设备的场所通过无损检测或切片分析以及各种可靠性测试,让相关人员更加透彻和完整的判断测试的准确性,这均得益于超声波扫描显微镜C-SAM检测设备的分析更加透彻,能够将影像进行固定后让各种检测均可完整的呈现,技术人员根据图像判断整个分析是否可靠。所以通过C-SAM检测设备来验证材料缺陷并且成像是目前较先进的技术,之所以通过C-SAM检测便是利用其不同材料不同密度的分析特性让分析结果更加准确。综上可知C-SAM检测缺陷、确定确切方位和尺寸多种功能让各种无损检测效率更高精度更高。
2018 - 11 - 28
哪些原因会影响超声波检测仪的检测结果?
由于超声波检测仪具有十分精确的检测效果,所以现在很多生产企业都会从采购优质超声波检测仪来对产品做检测,但是,有时候工作人员会发现检测的结果并没有达到预期的标准,那么,是什么原因导致的呢?下面就由超声波检测仪厂家来介绍哪些原因会影响检测的结果。1、频率选择的不正确超声波检测仪可以发出的超声波频率是有一个范围的,如果选择的频率不正确那就会影响产品检测的效果。因为频率的高低会导致产品接受到的超声波信息量过多或不足,再反馈的时候,超声波检测仪接收的反馈声波信息就会有一定程度的失真。2、功率选择的不合适超声波检测仪的功率对检测效果也有着非常重要的影响,因为功率会影响超声波检测仪中传感器的激励脉冲以及接收状况,如果使用了不合理的功率就会导致对产品的检测达不到预期目标,所以,在检测之前应该先根据实际的检测修来调整合适的超声波功率以便达到好的检测效果。3、产品的表面过于粗糙在使用超声波检测仪做检测的时候,产品表面越光滑就越容易和检测仪的探头耦合,反之,耦合效果就会不良,反射回波较低,甚至还会出现接收不到回波信息的情况,所以,要想达到准确的检测结果,产品表面就应该避免太粗糙,如果有锈蚀情况可以先将其处理光滑在检测。超声波检测仪厂家在上文中为大家介绍了几个容易导致检测结果不佳的原因,通过简单的介绍大家就可以了解到,虽然超声波检测仪是一种非常好用的、无损性的检测工具,但是,如果不正确的去使用也会导致检测结果出现失误,所以一定要避免以上这几个因素。
2018 - 12 - 15
使用超声波扫描显微镜的注意事项
超声波扫描显微镜是在显微镜的基础上进行技术的创新和产品的升级,其融入了超声波技术对扫描显微镜的清晰度和探索度都有帮助,超声波技术也属于科技领域较为高级的科技,那么购买者在使用超声波扫描显微镜时需要了解的注意事项有哪些?一、注意在使用超声波显微镜时不要携带金属制品由于超声波扫描显微镜是使用超声波技术进行物品的观察记录,而超声波与金属制品会产生物理反应导致一些不安全的事件发生。因此各位使用者在对扫描显微镜进行操作时可以先检查自身,注意细小的零件设备例如手表项链等容易被忽略的生活用品。二、注意在使用时应该穿戴好专业的设备衣物关于超声波扫描显微镜哪家比较专业这个话题的讨论可以通过许多细节得出答案,专业生产超声波扫描显微镜的品牌肯定明白应该如何使用显微镜,因此购买者只需查看该品牌是否在使用时穿戴好专业的设备服装,并且是否拥有专业的团队提供协助就能够明白该品牌的专业度。三、注意使用时的观察样品应该摆放在专门位置购买者在使用超声波扫描显微镜对样品玻片进行观察扫描时,应该注意样品的摆放位置是否完好的待在其应该待的位置,因为显微镜的镜头无法以圆为中心的移动,因此观察的范围就比较的固定和死板,因此假若观察样品没有摆放在专门位置可能就无法看到内在结构。超声波扫描显微镜有哪些牌子是各位购买者的日常讨论中亘古不变的话题,使用超声波扫描显微镜时不仅需要注意在使用超声波显微镜时不要携带金属制品,而且购买者还需注意在使用时应该穿戴好专业的设备衣物,同时还需注意使用时的观察样品应该摆放在专门位置。
2018 - 12 - 06
选择超声波扫描显微镜的好处有哪些
各位购买者对于超声波扫描显微镜哪家比较专业这个问题相当的苦恼和好奇,而超声波扫描显微镜这一在科技领域获得重大机械突破的创作,也受到了许多微观爱好者对于更高清晰度分辨度的追捧和喜爱,那么对于不了解显微镜的购买者来说选择超声波扫描显微镜的好处有哪些?一、能够更加清晰的了解观察样品超声波扫描显微镜相比于光学显微镜拥有着更高的分辨率和清晰度,在观察同一物品时使用超声波显微镜能够比光学显微镜的观察度更高,也能够保证所观察物品的细节和微小分子能够被购买者捕捉,相比光学显微镜在清晰度方面的比拼超声波显微镜显然更胜一筹。二、能够观测到普通显微镜无法突破的微小物质超声波扫描显微镜拥有着更高的扫描频率和分辨率,由于光学显微镜的观察样品是有着尺寸范围的,小于纳米范围及其以下的观察对象光学显微镜是无法捕捉和放大的,而使用超声波显微镜就能够较为轻松的解决观察对象尺寸过于微小的难题。三、观察样品的制作过程也更加方便快捷超声波扫描显微镜在样品的制作方面并不像普通显微镜那样麻烦繁琐准备工作冗长,只需进行简单的装片和安装在合适的观察位置就完成了,而光学显微镜等普通的显微镜在进行观察前需将样品切成薄片,它们才能够进行较好的观察和处理该样品的细节。超声波扫描显微镜哪家生产的好需要消费者用时间和精力去寻求真实的答案,购买者选择超声波扫描显微镜不仅能够更加清晰的了解观察样品,而且还能够观测到普通显微镜无法突破的微小物质,同时可以保证观察样品的制作过程更加的方便快捷。
2018 - 12 - 06
利用C-SAM进行分析有哪些好处
c-sam超声波检测是指利用超声波显微镜进行专业检测,许多人将超声波检测与其他同类检测相混淆,此种检测是根据不同密度材料的反射速率进行深度分析,所以它的分析精度高且错误率低,而C-SAM的传输信号即为超声波,众所周知超声波的抑制界面较少而且穿透率较高,那么C-SAM检测具有哪些优势呢?一、限制性较小小编注意到目前应用C-SAM检测的领域涵盖了塑料封装IC以及各种晶片和pcb行业、LED生产行业,可知对C-SAM检测的限制较小,尤其检测裂纹缺陷以及空洞分层或者金属基板的各种问题时采用C-SAM检测要明显优于同类检测,应用范围广且对行业限制小是C-SAM检测的重要优势。二、测试简单传统同类设备测试中效率有待提高,而使用C-SAM检测的测试步骤则大大简化,确认样品类型后仅需选择相应的频率探头,再将其放置测量装置当中让C-SAM检测工具正常开机并顺利进入扫描模式,即可对图像进行深度扫描,自动化缺陷分析让测试更加简单。三、分析更透彻完整清晰有许多使用C-SAM检测设备的场所通过无损检测或切片分析以及各种可靠性测试,让相关人员更加透彻和完整的判断测试的准确性,这均得益于超声波扫描显微镜C-SAM检测设备的分析更加透彻,能够将影像进行固定后让各种检测均可完整的呈现,技术人员根据图像判断整个分析是否可靠。所以通过C-SAM检测设备来验证材料缺陷并且成像是目前较先进的技术,之所以通过C-SAM检测便是利用其不同材料不同密度的分析特性让分析结果更加准确。综上可知C-SAM检测缺陷、确定确切方位和尺寸多种功能让各种无损检测效率更高精度更高。
2018 - 11 - 28
媒体报道 / News
科视达携手德国PVA TePla & 德国Sentronics Metrology 参展2016 上海SEMICON
科视达® 携手德国 PVA TePla & 德国Sentronics Metrology 参展2016 上海SEMICON科视达®将携手德国PVA TePla & 德国Sentronics Metrology参加 2016 年3 月15-17 日在“上海浦东新国际展览中心”开展的SEMICON CHINA 2016 展会(展位号: N3 馆- 3501展位 )。此次,将展出德国PVA TePla 公司生产制造的具有世界领先HiSA技术的SAM 302 HD2 - 超高清、前后双探头超声波扫描显微镜和超高速机型:SAM 300 UltraTec, 最快扫描速度2000mm/s.德国PVA TePla 和科视达技术专家将在展会现场进行操作演示和样品测试。同时将首次展出德国Sentronics Metrology(原ISIS )的晶圆多层膜厚/平整度/弓形/翘曲/表面粗糙度测量设备 SemDex 301-21,欢迎携带晶圆样品现场预约测试,以便更好了解设备的多功能与卓越性能。诚挚欢迎各位莅临展会现场观摩和技术交流!相信一定会令您不虚此行!
2013 - 11 - 29
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