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德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会德国原厂技术专家莅临指导参展机型 SAM 300 B参展机型 SAM 302 HD2德国技术专家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自动晶圆键合超声扫描检测系统SAM 302 HD2 HiSA 翘曲样品告诉实时自动对焦 及 DTS 高分辨动态透射扫描
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近年来，德国PVA TePla凭借在超声波扫描显微镜（SAM）领域内不断创新的、卓越的领先技术、优异稳定的产品质量、优质的售后服务，被广大的中国用户群所认可。德国PVA TePla近年更不断推出适合半导体领域的最尖端的超声检测设备，并在中国同步展出和销售。为此，我们科视达®和德国 PVA TePla厂商郑重邀请您参加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展会”。时间： 2018年3月14日星期三——3月16日星期五 地点： 上海浦东新国际展览中心 上海浦东龙阳路 2345号 展位号： N2 - N2627 PVA TePla & Questar 科视达展出机型：1. SAM 302 HD2 – 超高速实时自动聚焦 HiSA & 高分辨率动态透射扫描 DTS 2. SAM 300 B – 展示最新软件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射扫描
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德国 PVA & 科视达携手参展 2017 上海 Semicon 展会技术专家莅临指导参展机型 SAM 300
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近年来，德国 PVA 凭借在超声波扫描显微镜领域内卓越的领先技术、稳定的产品质量、优质的售后服务，被广大的中国用户群所认可和推荐。近年来，德国 PVA 不断推出拥有独特功能的、新型尖端超声波扫描检测设备，并在中国市场同步推出。德国 Sentronics 的晶圆膜厚/平整度/弓形/翘曲/粗糙度测量设备 （原 ISIS）以其高度集成的功能于一身，深受广大用户喜爱，避免了重复购买设备的弊端。2016推出的 SemDex 600 最大检测范围 600 * 600mm.展会： 2017 上海Semicon 时间： 2017年3月14日星期二 - 3月16日星期四 地点： 上海浦东新国际展览中心 上海浦东龙阳路2345号展位号：W3 馆- 3619展出机型:1. 德国 PVA - SAM 300 Basic - 新款机型，配置最新 Winsam 8 操作软件2. 德国 PVA - SAM 300 UltraTec - 前后双探头、超高速 (最快扫描速度 2000mm/ 秒)、同时配置 Winsam 5.8 + Winsam 8 操作软件3. 德国 Sentronics 晶圆膜厚测试仪 SemDex 151- 桌上型 特此邀请, 真诚期待您的光临！