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AM 300 基本型
2017
-
12
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29
1. 前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率2. 各种样品吸盘、夹具定制3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备)4、圆柱体、管材样品检测旋转装置5、使用要求; 220V,50Hz ,去离子水
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SAM 302 双探头扫描
2019
-
03
-
12
德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备) 图为左右排列双探头...
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