1. 前后双工位系统，减少机器停顿时间，显著提高工作效率2. 各种样品吸盘、夹具定制3. 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备）4、圆柱体、管材样品检测旋转装置5、使用要求； 220V，50Hz ，去离子水
德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器（软件开关控制，用于110MHz 以上延迟性探头使用）2. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3. 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备） 图为左右排列双探头，每个探头各扫描1个6' Wafer 双探头扫描系统（双探头可左右排列或前后排列），成倍提高检测效率
部分可选项： 1. 大水槽，深水槽定制；各种样品吸盘、夹具定制2. 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备）3. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器（软件开关控制，用于110MHz 以上延迟性探头使用）使用要求；220V，50Hz ，去离子水如需更为详细资料，敬请来电来函索取，如软件、硬件升级，相关参数会有所变更，请以生产厂家确认为准。
部分可选项： 1. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器（软件开关控制，用于110MHz 以上延迟性探头使用）2．前后双工位系统，减少机器停顿时间，显著提高工作效率3. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4．在不改变扫描机构主体，升级为双探头（左右排列或前后排列）、四探头扫描系统，成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备）5、圆柱体、管材样品检测旋转装置使用要求；220V，50Hz ，去离子水备注：SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端机型,SAM 301 UltraTec 超高速机型（双马达配置，扫描速度最高达 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等机型，根据具体配置予以细分，满足不同用户需求；欢迎您来电咨询，我们会根据您的产品检测需要，为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级， 相关参数会有所变更，请以生产厂家确认为准。
部分可选项： 1. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器（软件开关控制，用于110MHz 以上延迟性探头使用）2．前后双工位系统，减少机器停顿时间，显著提高工作效率3. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4．在不改变扫描机构主体，升级为双探头（左右排列或前后排列）、四探头扫描系统，成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备）5、圆柱体、管材样品检测旋转装置
部分可选项： 1. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器（软件开关控制，用于110MHz 以上延迟性探头使用）2. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备） 七 使用要求；220V，50Hz ，去离子水欢迎您来电咨询，我们会根据您的产品检测需要，为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级，相关参数会有所变更，请以生产厂家确认为准。