在生产半导体等材料的过程中，对于质量有着非常高的要求，常规的手段无法检测除这些材料存在的问题，而通过超声扫描显微镜则可以把这些材料的细微缺陷给检测出来，提供微观层面的检测结果，对于提升生产品质有着相当大的帮助，下面就来说说它检测的主要问题。

一、材料的杂质颗粒缺陷

半导体生产工艺复杂，有着很多精细化的要求，在生产过程中比较常见的颗粒杂质问题困扰了很多生产厂家。为使得生产达到对应的质量标准，必须将这种问题检测出来，使用超声扫描则可以很快的检测出这种缺陷，给后续的解决问题带来了很大的帮助。

二、材料内部裂纹缺陷

超声扫描的显微镜还可以用于各种精密电器元件的检测，这类产品在生产的过程当中，内部出现裂纹后无法通过常规的手段检测出来，但是使用超声扫描技术则可以有效的发现这种内部裂纹缺陷，从而避免了存在缺陷的产品流入到市场当中。

三、材料内部分层缺陷

很多电子元器件，以及半导体都存在内部分层缺陷，同样的，这种发生在材料内部的细微缺陷很难被常规手段检测，使用超声扫描则弥补了这方面的缺失，可以快速且准确的把材料分层缺陷给检测出来。

作为一种比较特殊的检测设备，超声扫描显微镜在精密生产领域发挥了相当大的作用，以上就是这种检测设备的主要优势体现。