超声波扫描显微镜是一种用来准确扫描各类工件元器件缺陷的无损检测设备，它具有先进的超声显微成像技术，被广泛应在工业和军事的各种半导体产品、芯片、电子器件、金刚石复合片以及复合材料的缺陷检测之中，超声波显微镜具有不同的扫描方式，对于不同的材料可以选择适合的扫描方式进行检测。

　　1、超声A扫描

　　A扫描方式是利用波形显示工件检测结果，根据反射波强度判断工件缺陷的严重程度，反射波的位置变化就是工件缺陷的位置，可以通过人工计算并标记，这种扫描方式通常应用在低频超声无损探测大工件领域，如隧道、管道、铁轨等领域的探伤，由于是人工计算标记，因此需要一定的专科学识基础。

　　2、超声B扫描

　　B扫描方式通常为纵截面图像显示探测结果，在屏幕上横坐标显示探头的扫差轨迹，纵坐标则是超声波的传播时间，这种方式可以监测工件缺陷的深度，而且扫描结果较为直观，可以更快速便捷看见工件的纵深和厚度。

　　3、超声C扫描

　　C扫描是较为工业中常用的扫描方式，这种方式可以探测出工件缺陷的水平方向横截面图像，不同于A/B扫描方式的数字处理计算方式，C扫描方式是直接图像处理，探测结果更加直接显示，甚至可以计算出缺陷面积准确反映工件的质量状况。

　　4、超声T扫描

　　T扫描是超声波穿过检测工件时接收处理生成的超声全息图像检测，可以根据超声穿透工件接收的回波强弱对被检测工件进行综合性整体缺陷分析和判断。

　　以上就是关于超声波扫描显微镜的几种不同扫描方式的介绍，各种扫描检测方式对于工件缺陷的检测时间、图像生成特性都不相同，因此在各行业进行样品检查和瑕疵检测时应该根据不同扫描方式的优势，选择合适的检测方式，如此才可以达到检测事半功倍的效果。