我司参加了2012年03月20-22日在上海浦东新国际展览中心(Shanghai New InternationalExpo Centre)开展的SEMICON CHINA 2012 展会（展位号:E3563 )。展会盛况空前, 参观者络绎不绝。
此次，我司展出了德国PVA公司生产制造的世界领先的双探头，双工位超声波扫描显微镜( SAM300 TWIN), 此台机器一经展出，便吸引了大量用户，访问者与现场德国资深专家展开热烈探讨, 交流世界最新检测技术。双探头，双工位的超高工作效率，让用户耳目一新, 纷纷表示了浓厚的兴趣和购买欲望。
同时PVA 首次展出Auto Wafer 300 - 全自动MEMS 晶圆超声检测系统 （4 探头），可进行4-12‘ 英寸 晶圆键合的全自动超声检测：自动对焦和扫描系统，自动缺陷分析，并包括NG 样品分类，包括自动风干和烘干装置， 完成一片6 英寸 晶圆检测只需2-5 分钟 （4 探头），惊艳全场。德国PVA 超声技术的领先实现让参观者耳目一新 ！
