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科视达 2012 上海 SEMICON 展会风采

Date: 2012-03-23
Views: 116

我司参加了2012年03月20-22日在上海浦东新国际展览中心(Shanghai New InternationalExpo Centre)开展的SEMICON CHINA 2012 展会(展位号:E3563 )。展会盛况空前, 参观者络绎不绝。  
  
  
此次,我司展出了德国PVA公司生产制造的世界领先的双探头,双工位超声波扫描显微镜( SAM300 TWIN), 此台机器一经展出,便吸引了大量用户,访问者与现场德国资深专家展开热烈探讨,  交流世界最新检测技术。双探头,双工位的超高工作效率,让用户耳目一新, 纷纷表示了浓厚的兴趣和购买欲望。 

 

同时PVA 首次展出Auto Wafer 300 - 全自动MEMS 晶圆超声检测系统 (4 探头),可进行4-12‘ 英寸 晶圆键合的全自动超声检测:自动对焦和扫描系统,自动缺陷分析,并包括NG 样品分类,包括自动风干和烘干装置, 完成一片6 英寸 晶圆检测只需2-5 分钟 (4 探头),惊艳全场。德国PVA 超声技术的领先实现让参观者耳目一新 ! 


科视达 2012 上海 SEMICON 展会风采



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