德国 PVA Tepla 2013 SEMICON 上海 技术研讨会
PVA Tepla 2013 SEMICON Shanghai Technology Seminar
时间: 2013年3月19日星期二 下午14:00 - 15:30
Date: March 19, 2013 Tuesday 14:00-15:30
地点: 上海浦东新国际展览中心 上海浦东龙阳路2345
Location: Shanghai Pudong New Expo. No.2345 Longyang Road, Shanghai
会议室: N3 展馆- M43 会议室
Meeting Room: N3-M43
研讨会议程安排Agenda of Seminar:
14:00 – 14:05 Opening Speech by PVA and Questar 开幕式
14:05 – 14:25 Presenter: Mrs. Li-Kuang Chen
Title: Fully automated VPD equipment with integrated analysis
题目:全自动气相沉积设备及分析系统
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14:30 – 15:00 Presenter: General Manager - Dr. Peter Czurratis of PVA Tepla
Analytical Systems GmbH
Title: Ultra High Speed SAM and New Development in Acoustic for
Semiconductor Application
题目:超高速超声扫描显微镜及在半导体应用领域的最新发展
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15:00 – 15:20 Presenter: Mr. Helge Luesebrink
Title: Lessons Learned from Chip Packaging for 3D Interconnect – Yield
& reliability
题目:三维互联封装芯片的成品率和可靠性
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15:20 – 15:30 Q & A 问答
PVA - Questar SEMICON展位号/ PVA-Questat SEMICON Booth No:N3 – 3163.
PVA Tepla 2013 SEMICON 参展机器/ PVA Tepla 2013 SEMICON Demo Machines
1. PVA SAM 400 QUAD SAM – PVA SAM 400 型四探头超声波扫描显微镜
2. PVA Ultra High Speed SAM – PVA 超高速超声波扫描显微镜(扫描速度大于2000mm/秒)
另有 PVA SAM 300 主流机型(陈列于上海复旦大学联合实验室)
感谢您的光临!