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德国 PVA Tepla SAM 400 Quad 四探头超声波扫描显微镜 参展 2013 上海 SEMICON

Date: 2013-03-24
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德国 PVA Tepla SAM 400 Quad 四探头超声波扫描显微镜 参展 2013 上海 SEMICON

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2018 - 04 - 18
德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会德国原厂技术专家莅临指导参展机型 SAM 300 B参展机型 SAM 302 HD2德国技术专家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自动晶圆键合超声扫描检测系统SAM 302 HD2 HiSA 翘曲样品告诉实时自动对焦 及 DTS 高分辨动态透射扫描
2018 - 04 - 18
近年来,德国PVA TePla凭借在超声波扫描显微镜(SAM)领域内不断创新的、卓越的领先技术、优异稳定的产品质量、优质的售后服务,被广大的中国用户群所认可。德国PVA TePla近年更不断推出适合半导体领域的最尖端的超声检测设备,并在中国同步展出和销售。为此,我们科视达®和德国 PVA TePla厂商郑重邀请您参加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展会”。时间:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地点:  上海浦东新国际展览中心   上海浦东龙阳路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科视达展出机型:1. ...
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德国 PVA & 科视达携手参展 2017 上海 Semicon 展会技术专家莅临指导参展机型 SAM 300
2017 - 03 - 05
近年来,德国 PVA 凭借在超声波扫描显微镜领域内卓越的领先技术、稳定的产品质量、优质的售后服务,被广大的中国用户群所认可和推荐。近年来,德国 PVA 不断推出拥有独特功能的、新型尖端超声波扫描检测设备,并在中国市场同步推出。德国 Sentronics 的晶圆膜厚/平整度/弓形/翘曲/粗糙度测量设备 (原 ISIS)以其高度集成的功能于一身,深受广大用户喜爱,避免了重复购买设备的弊端。2016推出的 SemDex 600 最大检测范围  600 * 600mm.展会:  2017 上海Semicon  时间:  2017年3月14日星期二 -  3月16日星期四       地点: 上海浦东新国际展览中心 ...
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