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科视达携手德国PVA TePla & 德国Sentronics Metrology 参展2016 上海SEMICON

Date: 2013-11-29
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科视达® 携手德国 PVA TePla & 德国Sentronics Metrology 参展2016 上海SEMICON

科视达®将携手德国PVA TePla & 德国Sentronics Metrology参加 2016 年3 月15-17 日在“上海浦东新国际展览中心”开展的SEMICON CHINA 2016 展会(展位号: N3 馆- 3501展位 )。


此次,将展出德国PVA TePla 公司生产制造的具有世界领先HiSA技术的SAM 302 HD2 - 超高清、前后双探头超声波扫描显微镜和超高速机型:SAM 300 UltraTec, 最快扫描速度2000mm/s.

德国PVA TePla 和科视达技术专家将在展会现场进行操作演示和样品测试。

同时将首次展出德国Sentronics Metrology(原ISIS )的晶圆多层膜厚/平整度/弓形/翘曲/表面粗糙度测量设备 SemDex 301-21,欢迎携带晶圆样品现场预约测试,以便更好了解设备的多功能与卓越性能。

诚挚欢迎各位莅临展会现场观摩和技术交流!相信一定会令您不虚此行!



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