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1. 前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率2. 各种样品吸盘、夹具定制3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、    X-Ray 等众多显微检测设备)4、圆柱体、管材样品检测旋转装置5、使用要求; 220V,50Hz ,去离子水
德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备) 图为左右排列双探头,每个探头各扫描1个6' Wafer  双探头扫描系统(双探头可左右排列或前后排列),成倍提高检测效率
部分可选项:  1.  大水槽,深水槽定制;各种样品吸盘、夹具定制2. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)3.  德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)使用要求;220V,50Hz ,去离子水如需更为详细资料,敬请来电来函索取,如软件、硬件升级,相关参数会有所变更,请以生产厂家确认为准。
部分可选项:  1.  德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)5、圆柱体、管材样品检测旋转装置使用要求;220V,50Hz ,去离子水备注:SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端机型,SAM 301  UltraTec 超高速机型(双马达配置,扫描速度最高达 2000mm/s)SAM 300 B, SAM 301 HD2 等机型,根据具体配置予以细分,满足不同用户需求;欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级, 相关参数会有所变更,请以生产厂家确认为准。
部分可选项:  1.  德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)5、圆柱体、管材样品检测旋转装置
部分可选项:  1.  德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备) 七  使用要求;220V,50Hz ,去离子水欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级,相关参数会有所变更,请以生产厂家确认为准。
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    德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备) 图为左右排列双探头,每个探头各扫描1个6' Wafer  双探头扫描系统(双探头可左右排列或前后排列),成倍提高检测效率
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