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产品名称: SAM 402 双探头扫描
上市日期:2019-03-12
  •  SAM 402  双探头扫描  SAM 402  双探头扫描
  • 产品参数
  • 适用范围
  • 说明
  • 产品描述
  • 参数配置

主要技术参数:

( 敬请注意:因超声扫描技术日新月异,以下所列设备最的参数规格仅供参考,并非最新;如您需要设备最新的技术规格表或需要我们定制提供某些硬件配置或软件功能,请您联系对应区域的销售人员)

一  机械部分:

1. X/Y 两轴均为超高速、线性马达驱动系统, X / Y 轴内置磁力机构;

2. 配有防震系统与惯性平衡机构,隔绝在高速扫描过程中振动影响,确保图像不会因快速扫描而失真;

3. Z 轴行程大于100mm

4. Z轴自动对焦,不仅可以自动对焦到样品表面,而且同时还可对样品内部任意界面自动对焦; 逐层自动对焦可设定步距,Z-轴探头按步距从样品底部开始向上逐层扫描;

5. 双探头可同时扫描,每个探头扫描范围:最小0.20 mm  × 0.20 mm ;最大 > 430 mm × 430 mm;可自定义扫描区域,可任意输入或框选扫描面积(正方形,长方形,矩形);同时还能自定义序列扫描,跳过没有样品的空白位置;可自动寻找被测样品的中心位置和样品边缘尺寸,自动设定扫描范围;

6. 最大扫描速率:1,500 mm/s

7. 重复精度:+/- 0.1μm

8. 标准工作水槽尺寸:870 *670 * 70mm 或870 * 670 * 150mm 或定制加长工作水槽,配置工字形样品台

二  电子部分:

1. DPR 500 超声波接收和发射器频率带宽:500MHz

2. ADC卡采样频率:1.25G/秒 ( 2G , 5G 可选 )

3. 前置放大器:L2,H2,H3(选配)


支持换能器(探头)范围:1MHz -400Mz  或按产品需求,定制提供探头频率和焦距

部分可选项:  

1.  德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)

2.  各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级

3 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、   X-Ray 等众多显微检测设备)

 七  使用要求;220V,50Hz ,去离子水

欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.

设备如软件、硬件升级,相关参数会有所变更,请以生产厂家确认为准。


软件部分: 最新Winsam 8 超声扫描成像软件,部分功能介绍:

1.  主要扫描模式包括:A扫描(点扫描)、B扫描、C扫描、多层C扫描、在不同的Z高度进行连续的C扫描、多重门限扫描、透射扫描、托盘扫描、、顺序扫描、高清晰扫描、表面跟踪扫描、实体扫描、分频扫描、

覆盖扫描等;透射扫描模式选件:Through Scan 透射扫描固定单元及接收探头;

2. 表面稳定功能:可消除或减弱样品表面刻字,激光打标等对样品内部超声波信号所带来的影响;

3. 图像输出格式:tiff, bmp, jpeg, png 等;  tiff格式能一键存储保存所有的扫描参数,可在下一次扫描时调用;

4.定量测量功能:X -Y 长度测量、厚度与距离测量、缺陷百分比计算:可根据样品的实际轮廓(圆形,矩形,不规则形)进行缺陷面积百分比统计分析,样品扫描后可提供缺陷尺寸列表并输出报告,点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的X/Y 区域,便于进一步分析和定位缺陷等;

5. 图像着色功能:根据相位翻转自动着色;根据灰度等级手动着色;根据渡越时间手动着色,根据厚度变化手动着色(已知材料的阻抗值)

6.  报告生成:扫描后生成扫描分析报告,报告中包含:最终扫描图片、各种扫描参数设置、样品的A扫描波形图等;

7.软件可显示探头在水槽中的X/Y/Z三维坐标和当前所设定的扫描范围;

8.用户可自主选择XY轴移动方向、各种探头回位方式、以何种方式调用之前扫描保存的图片来获得扫描参数等;

9. 射频增益窗口:-22dB-50dB , 高级菜单设置

10. 图像分辨率: ≥42000 * 42000 像素 

 


专业工业控制计算机系统基本配置:

基本配置:CPU 3.5 GHz, Intel 八核处理器,32GB 内存,1T硬盘,DVD-RW刻录光驱,高速图像卡,Windows 10操作系统,USB及网络接口,1台或 2台 27' LCD 液晶显示器或2台22寸液晶显示器, 配置防静电操作台

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