1. 前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率2. 各种样品吸盘、夹具定制3. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备)4、圆柱体、管材样品检测旋转装置5、使用要求; 220V,50Hz ,去离子水
部分可选项: 1. 大水槽,深水槽定制;各种样品吸盘、夹具定制2. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备)3. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)使用要求;220V,50Hz ,去离子水如需更为详细资料,敬请来电来函索取,如软件、硬件升级,相关参数会有所变更,请以生产厂家确认为准。
部分可选项: 1. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备)5、圆柱体、管材样品检测旋转装置使用要求;220V,50Hz ,去离子水备注:SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端机型,SAM 301 UltraTec 超高速机型(双马达配置,扫描速度最高达 2000mm/s)SAM 300 B, SAM 301 HD2 等机型,根据具体配置予以细分,满足不同用户需求;欢迎您来电咨询,我们会根据您的产品检测需要,为您推荐最合适的机型和配置.设备如软件、硬件升级, 相关参数会有所变更,请以生产厂家确认为准。
部分可选项: 1. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器(软件开关控制,用于110MHz 以上延迟性探头使用)2.前后双工位系统,减少机器停顿时间,显著提高工作效率3. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级4.在不改变扫描机构主体,升级为双探头(左右排列或前后排列)、四探头扫描系统,成倍提高扫描效率4. 专业图像处理与计算软件(空洞率计算和颗粒度分析,不仅适用于超声波扫描显微镜,同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备)5、圆柱体、管材样品检测旋转装置
( 敬请注意:因超声扫描技术日新月异,以下所列设备最的参数规格仅供参考,并非最新;如您需要设备最新的技术规格表或需要我们定制提供某些硬件配置或软件功能,请您联系对应区域的销售人员)1、 扫描台:第二代High Definition高清晰扫描台;重复精度 0.05umX / Y 轴均为超高性能线性马达(Y 轴为双马达)X / Y 轴具有内置磁力机构,配置仪器设备专用大理石防震台和平衡惯性机构,确保扫描的稳定性在高速扫描过程中可隔绝振动的影响,可避免图像因快速扫描而失真; 2. 前后双探头机构,可前后同时反射扫描,2倍单探头扫描效率; 3. 前后每个探头各自扫描范围:最小:200 x 200 μm 最大:320 x 320 mm 4. 可自动寻找被测样品的中心位置和样品边缘尺寸,自动设定扫描范围 5. 最大扫描速度: 2,000mm/s, X 轴最大加速度:20,000mm/s2 6. 接收发射器DPR 500带宽:500MHz 7. ADC 卡采样频率:5G/秒 8. 支持探头频率:5MHz-400MHz 9. 增益调节窗口:-22dB-50dB, 更多功能高级菜单设置 10. 主要扫描模式:A-扫描、B-扫描、X-扫描 (多层C扫描)、Z-Staple 扫描(在不同的Z高度进行连续的C扫描)、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan实体扫描模式、托盘矩阵扫描、 Z变换扫描、顺序扫描预扫描、自动扫描、空位跳跃扫描、插值扫描、分频扫描,Over Scan等; 11. 图像分辨率最大≥ 42,000 x 42,000 像素, 精度最小0.5um/像素;12. HiSA ...
USAMInverted 是一款专为高端研发和工业应用开发的超声波检测仪器,它必须安装在防振工作台上。将超声波扫描显微镜和光学显微镜结合起来,允许用户在两者之间快速切换。 声学和光学显微图像在x-y方向上的精度低于5μm,用户可以对样品的同一区域用声学和光学的方法进行细致的比较。