C-SAM是Scanning Acoustic Microscope的简称，由于超声波是其主要的扫描模式，也被称为C-Scan模式，所以简称C-SAM。用超声波进行检测在生产和科研中应用广泛，下面来了解一下它的具体原理和应用。

1.产品原理

不同的物质对于发出的超声波可以进行散射反射吸收和阻挡返回的超声波的特性，由于物质的种类不同也有所区别。利用物体反射超声波的特异性来判断物体的种类是常用的检测方法。相对于传统的X，射线照射法通过超声波扫描来检测，可以探测到其无法探测到的封装裂痕。

C-SAM是主要是利用频率高于20千赫兹的超声波来对样品中的空隙等缺陷进行探测，主要应用于观察组件内部的裂纹，分层，空洞等，属于一种非破坏性的检测方式，可以探测到材料，内部结构是典型的无损检测模式可以在不破坏原材料的前提下对物料进行准确的检测。

2.具体模式

利用脉冲回波判断缺陷的深度，具体的方法分为三种：A-Scan、C-Scan、B-Scan。其中A-Scan是传输时间测量模式，C-Scan是表面及横向截面扫描模式，B-Scan是纵向截面成像模式。

3.产品用途

这种检测方式主要用于LED金属板电子器件的无损检测可以准确查找到材料内部的分层裂纹和空洞等等，通过图像进行比对判断内部的阻抗差异，确定缺陷的具体尺寸和方位。

4.注意事项

这种检测方式虽然不会破坏材料的内部结构，但是需要对被检测对象有一定的要求。需要说明的是，它可能对液体的样品带来一些损害，因为多声波会通过液体进行传输。不是，它对于检测样品的表面和内部形态也有一定的要求，如果检测对象的内部有很多气泡或者表面比较粗糙，是无法获得比较满意的检测效果的。

C-SAM是当前一种比较主流的无损检测方式，已经在生产中得到了比较广泛的应用，可以在保证样品不受破坏的前提下提升检测的准确度。