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德国 PVA & 科视达携手参展 2018 上海 Semicon 展会德国原厂技术专家莅临指导参展机型 SAM 300 B参展机型 SAM 302 HD2德国技术专家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自动晶圆键合超声扫描检测系统SAM 302 HD2 HiSA 翘曲样品告诉实时自动对焦 及 DTS 高分辨动态透射扫描
发布时间: 2018 - 04 - 18
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发布时间: 2012 - 07 - 11
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我们科视达(中国)有限公司将于2012年6月19日-21日在上海世博展览馆参展 PCIM,展位号:220。我们将隆重展出为IGBT 样品特别设计的带防水密封装置的“半自动IGBT超声波扫描检测显微系统”---特别配有样机和样品展示,“全自动系统” 为视频演示,相信一定会给您带来不一样的高效视觉感受。我们热诚期待您的光临,并尽一切努力使您不虚此行。
发布时间: 2012 - 06 - 21
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科视达将携手德国PVA 参加 2013 年 6 月 18日 - 20 日上海世博展馆 举办的PCIM展会( 展位号: 512 ) 。PVA 全新半自动IGBT 超声波扫描显微系统将惊艳亮相,敬请光临!
发布时间: 2012 - 06 - 13
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我司参加了2012年03月20-22日在上海浦东新国际展览中心(Shanghai New InternationalExpo Centre)开展的SEMICON CHINA 2012 展会(展位号:E3563 )。展会盛况空前, 参观者络绎不绝。      此次,我司展出了德国PVA公司生产制造的世界领先的双探头,双工位超声波扫描显微镜( SAM300 TWIN), 此台机器一经展出,便吸引了大量用户,访问者与现场德国资深专家展开热烈探讨,  交流世界最新检测技术。双探头,双工位的超高工作效率,让用户耳目一新, 纷纷表示了浓厚的兴趣和购买欲望。  同时PVA 首次展出Auto Wafer 300 - 全自动MEMS 晶圆超声检测系统 (4 探头),可进行4-12‘ 英寸 晶圆键合的全自动超声检测:自动对焦和扫描系统,自动缺陷分析,并包括NG 样品分类,包括自动风干和烘干装置, 完成一片6 英寸 晶圆检测只需2-5 分钟 (4 探头),惊艳全场。德国PVA 超声技术的领先实现让参观者耳目一新 !
发布时间: 2012 - 03 - 23
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我司参加了2011年3月15日 - 17日在上海浦东新国际展览中心(Shanghai New International Expo Centre )开展的SEMICONCHINA 2011 展会(展位号:W3 展馆,2359 )。展会盛况空前, 参观者络绎不绝。      此次,我司展出了德国PVA公司生产制造的世界领先的双探头超声波扫描显微镜( SAM300 TWIN), 此台机器一经展出,便吸引了大量用户,访问者与现场德国资深专家展开热烈探讨,交流世界最新检测技术。双探头与单探头相比,显著提高超高工作效率,让用户耳目一新, 纷纷表示了浓厚的兴趣和购买欲望。 我司同时还展出了日本Union公司生产制造的DH2/IMH系列高精度测量显微镜,DZ2/DZ3系列视频显微镜,SONY公司生产的TECHNOLOOK系列三维视频显微镜等一批用于半导体行业的产品检测的精密仪器。科视达2011年已正式成为Panalytical 帕纳科华东区代理,目前正积极拓展XRD,XRF 的国内市场。
发布时间: 2011 - 03 - 25
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发布时间: 2010 - 06 - 23
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我司参加了2010年4月20-22日上海光大会展中心中心(ShanghaiEverbrightConvention&ExhibitionCentre)开展的NEPCONEMTChina2010展会(展位号:2G2715),3天展会期间,参观者络绎不绝。      此次,我司展出了德国PVA公司生产制造的拥有世界领先技术的超声波扫描显微镜(SAM300),同时还展出了日本Union公司生产制造的DH2/IMH系列高精度测量显微镜,DZ2/DZ3系列视频显微镜,SONY公司生产的TECHNOLOOK系列三维视频显微镜等一批用于半导体行业的产品检测的精密仪器。      我司参加了2010年4月20-22日上海光大会展中心中心(ShanghaiEverbrightConvention&ExhibitionCentre)开展的NEPCONEMTChina2010展会(展位号:2G2715),3天展会期间,参观者络绎不绝。    此次,我司展出了德国PVA公司生产制造的拥有世界领先技术的超声波扫描显微镜(SAM300),同时还展出了日本Union公司生产制造的DH2/IMH系列高精度测量显微镜,DZ2/DZ3系列视频显微镜,SONY公司生产的TECHNOLOOK系列三维视频显微镜等一批用于半导体行业的产品检测的精密仪器。
发布时间: 2010 - 04 - 22
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我司参加了2010年03月16-18日在上海浦东新国际展览中心(ShanghaiNewInternationalExpoCentre)开展的SEMICONCHINA2010展会(展位号:W2159)。展会盛况空前,参观者络绎不绝。        此次,我司展出了德国PVA公司生产制造的世界领先的双探头超声波扫描显微镜(SAM300TWIN),此台机器一经展出,便吸引了大量用户,访问者与现场德国资深专家展开热烈探讨,交流世界最新检测技术。双探头的超高工作效率,让用户耳目一新,纷纷表示了浓厚的兴趣和购买欲望。        我司同时还展出了日本Union公司生产制造的DH2/IMH系列高精度测量显微镜,DZ2/DZ3系列视频显微镜,SONY公司生产的TECHNOLOOK系列三维视频显微镜等一批用于半导体行业的产品检测的精密仪器。
发布时间: 2010 - 03 - 18
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2018 - 12 - 15
由于超声波检测仪具有十分精确的检测效果,所以现在很多生产企业都会从采购优质超声波检测仪来对产品做检测,但是,有时候工作人员会发现检测的结果并没有达到预期的标准,那么,是什么原因导致的呢?下面就由超声波检测仪厂家来介绍哪些原因会影响检测的结果。1、频率选择的不正确超声波检测仪可以发出的超声波频率是有一个范围的,如果选择的频率不正确那就会影响产品检测的效果。因为频率的高低会导致产品接受到的超声波信息量过多或不足,再反馈的时候,超声波检测仪接收的反馈声波信息就会有一定程度的失真。2、功率选择的不合适超声波检测仪的功率对检测效果也有着非常重要的影响,因为功率会影响超声波检测仪中传感器的激励脉冲以及接收状况,如果使用了不合理的功率就会导致对产品的检测达不到预期目标,所以,在检测之前应该先根据实际的检测修来调整合适的超声波功率以便达到好的检测效果。3、产品的表面过于粗糙在使用超声波检测仪做检测的时候,...
2018 - 12 - 06
超声波扫描显微镜是在显微镜的基础上进行技术的创新和产品的升级,其融入了超声波技术对扫描显微镜的清晰度和探索度都有帮助,超声波技术也属于科技领域较为高级的科技,那么购买者在使用超声波扫描显微镜时需要了解的注意事项有哪些?一、注意在使用超声波显微镜时不要携带金属制品由于超声波扫描显微镜是使用超声波技术进行物品的观察记录,而超声波与金属制品会产生物理反应导致一些不安全的事件发生。因此各位使用者在对扫描显微镜进行操作时可以先检查自身,注意细小的零件设备例如手表项链等容易被忽略的生活用品。二、注意在使用时应该穿戴好专业的设备衣物关于超声波扫描显微镜哪家比较专业这个话题的讨论可以通过许多细节得出答案,专业生产超声波扫描显微镜的品牌肯定明白应该如何使用显微镜,因此购买者只需查看该品牌是否在使用时穿戴好专业的设备服装,并且是否拥有专业的团队提供协助就能够明白该品牌的专业度。三、注意使用时的观察样品应该摆放...
2018 - 12 - 06
各位购买者对于超声波扫描显微镜哪家比较专业这个问题相当的苦恼和好奇,而超声波扫描显微镜这一在科技领域获得重大机械突破的创作,也受到了许多微观爱好者对于更高清晰度分辨度的追捧和喜爱,那么对于不了解显微镜的购买者来说选择超声波扫描显微镜的好处有哪些?一、能够更加清晰的了解观察样品超声波扫描显微镜相比于光学显微镜拥有着更高的分辨率和清晰度,在观察同一物品时使用超声波显微镜能够比光学显微镜的观察度更高,也能够保证所观察物品的细节和微小分子能够被购买者捕捉,相比光学显微镜在清晰度方面的比拼超声波显微镜显然更胜一筹。二、能够观测到普通显微镜无法突破的微小物质超声波扫描显微镜拥有着更高的扫描频率和分辨率,由于光学显微镜的观察样品是有着尺寸范围的,小于纳米范围及其以下的观察对象光学显微镜是无法捕捉和放大的,而使用超声波显微镜就能够较为轻松的解决观察对象尺寸过于微小的难题。三、观察样品的制作过程也更加方便快...
2018 - 11 - 28
c-sam超声波检测是指利用超声波显微镜进行专业检测,许多人将超声波检测与其他同类检测相混淆,此种检测是根据不同密度材料的反射速率进行深度分析,所以它的分析精度高且错误率低,而C-SAM的传输信号即为超声波,众所周知超声波的抑制界面较少而且穿透率较高,那么C-SAM检测具有哪些优势呢?一、限制性较小小编注意到目前应用C-SAM检测的领域涵盖了塑料封装IC以及各种晶片和pcb行业、LED生产行业,可知对C-SAM检测的限制较小,尤其检测裂纹缺陷以及空洞分层或者金属基板的各种问题时采用C-SAM检测要明显优于同类检测,应用范围广且对行业限制小是C-SAM检测的重要优势。二、测试简单传统同类设备测试中效率有待提高,而使用C-SAM检测的测试步骤则大大简化,确认样品类型后仅需选择相应的频率探头,再将其放置测量装置当中让C-SAM检测工具正常开机并顺利进入扫描模式,即可对图像进行深度扫描,自动化缺陷...
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